Konferenzen und Ausstellungen

SPIE Optical Systems Design ist ein interdisziplinäres Forum für Techniker*innen, Ingenieur*innen, Forschende und Manager*innen, die auf allen Ebenen – von Entwurf und Spezifikation über Produktion und Prüfung – mit instrumenteller Optik zu tun haben. Zeitgleich findet am selben Ort die SPIE Photonics Europe statt.

Die Veranstaltung bietet durch hunderte internationale Vorträge viele Einblicke in neue Forschungsergebnisse. Hochkarätige Referent*innen aus dem Forschungsbereich teilen ihre Ergebnisse und Zukunftsvisionen. Darüber hinaus können die Teilnehmenden sich im Rahmen von technischen Veranstaltungen, Netzwerkevents sowie Ausstellungen mit Kolleg*innen vernetzen und mit führenden Unternehmen in Kontakt treten. 

Die Schwerpunkte der Veranstaltung sind:

• Beleuchtungsoptik
• Fortschritte bei optischen Dünnschichten
• Rechnergestützte Optik
• Optische Fertigung und Prüfung
• Optisches Design und Technik
• Wissenschaft, Technologie und Anwendungen optischer Instrumente

Das Fraunhofer IST beteiligt sich mit einem Beitrag an der Veranstaltung: 

09. April 2024, 11:30 -11:50 Uhr, Salon 1/Level 0

Ellipsometric control of layer thickness during coating of nanolaminate layers

Stefan Bruns, Fraunhofer IST

Die optische Dickenmessung, die für die Herstellung hochpräziser optischer Interferenzfilter unerlässlich ist, stößt bei sehr dünnen Schichten wie Nanolaminaten mit Methoden wie der Standard-Breitbandtransmission an die Grenzen der Dickenauflösung. Die Ellipsometrie ist empfindlicher für Materialdispersion und die Transmissionsmessung kann für höhere Schichtzahlen bei Standardmaterialien verwendet werden. Der Vortrag zeigt den Einsatz eines Breitband-Ellipsometers zur Bestimmung der Dicke und der Materialeigenschaften während des Schichtwachstums. Anschließend werden Ergebnisse für Nanolaminate aus der Kombination von amorphem Silizium und Siliziumdioxid vorgestellt.